簡介

HST-DF2000A手持XRF光譜儀廣泛應用於品質控制、合金鑑定、勘探、礦石開採、礦物品位控制等領域。具有體積小、重量輕、待機時間長、無損檢測、分析速度快、精度高、穩定性好、應用範圍廣、性價比高等優點。樣品形態要求低，可直接檢測固體、粉末、液體樣品，可一次測定多種元素含量，方便快速。

主要應用實例：廢金屬回收、合金材料牌號鑑定、貴金屬檢測（如不銹鋼、中低合金鋼、銅合金、鈦合金、鋁合金、鉭合金等的鑑定分析）、探礦檢測、品位控制、環境分析領域（可檢測礦石中40多種元素如：P、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Rb、Sr、Zr、等）、原礦、精礦、尾礦、礦渣等礦物分析領域，為各種物料的分析提供可靠的判斷價值。

測試範圍

理論上，如果HST-DF2000A配備SDD檢測器，可偵測Mg(12)-U(92)之間的所有元素。

元素含量範圍寬，從ppm含量到99.9均可偵測。具體檢測極限取決於分析材料。

配置及參數

其他參數

（1）顯示系統：3.5吋高清顯示屏，帶觸控屏，支援譜圖顯示和結果顯示模式

(2)A8主機板，高效能、低功耗

（3）資料處理系統：16位元A/D轉換器、Atom Z510 1.1GHz處理器、1G記憶體、8G工業級（PQI）CF卡

(4)操作軟體：Linux作業系統，具有病毒免疫功能

(5)安全保護：光導管具有自動開啟和關閉功能，最大程度地保護操作人員的安全

（6）供電方式：支援直充供電和電池組供電，電池組採用聚合物鋰離子電池，可連續使用6小時

（7）選配功能：300萬畫素高清鏡頭，方便隨時記錄樣本

（8）規格：長*寬*高260mm*95mm*280mm；重量約1.8kg

(9)工作環境：溫度範圍-10℃～40℃；相對濕度：≤80%

HST-DF2000A矩陣分析

分析程序：鐵基、銅基、鈷基、鎳基、鈦基、鋅基、鋁基等。